|
|
|
|
|
Модуль AXALIT Microchips является дополнением к базовой версии ПО AXALIT. Программа применяется для контроля и метрологии полупроводниковых пластин, анализа и морфологии поверхности. ПО позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса, нанесение аннотаций.
AXALIT Microchips имеет две методики работы: автоматическое нахождение и распознавание дефектов полупроводниковых пластин; проведение точных замеров дорожек и других микроэлектронных элементов печатных плат и кремниевых пластин.
Результат распознавания дефектов литографии в ПО AXALIT Microchips
Узнайте больше о возможностях ПО AXALIT Microchips из статьи «Внедрение искусственного интеллекта в дефектоскопию МЭМС-производства».
При необходимости проведения геометрических измерений в конкретных координатах платы, в AXALIT Microchips реализована возможность съёмки по шаблону.
Посмотрите видео-пример анализа электронной микросхемы по шаблону модулем ПО AXALIT Microchips.
Внимание! Методика "Съёмка по шаблону" работает только на микроскопах с моторизированным предметным столиком. Узнайте о возможности моторизации вашего микроскопа Системой моторизации AXALIT MS.
САМО AXALT внесён в Государственный реестр средств измерений под свидетельством RU.C.27.005.A № 71098-18