Главная / Каталог / Оптические микроскопы / 3D оптические профилометры / S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений

S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений

Категории
S mart производства SENSOFAR (Испания) - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений или измерений в производственом процессе. Это новое слово в оптической 3D профилометрии

Микроскоп для in-situ измерений / измерений в производстве

Запросить точную цену
Российский разработчик ПО
Официальный дистрибьютор
Пуско-наладочное и сервисное обслуживание
Доставка в любую точку России и СНГ
Гарантия
12 месяцев
Описание
Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.

S mart соеденил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Он может устанавливаться на обрабатывающие станки и оборудование для контроля обработки деталей и образцов. 

Прибор выполнен с пылезащищенном исполнении.
Измерение шероховатости до 10 нм, угол до 86 градусов.
Разрешение по Z  - 2 нм.

Применение:

  1. Машиностроение
  2. Материаловедение  
  3. Энергетика
  4. Криминалистика
  5. Контроль лазерной гравировки
  6. Микроэлектроника 
  7. Микромеханика
  8. Оптика
  9. Полупроводники
  10. Потребительская электроника
  11. Фотовольтика
  12. Дисплеи

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, VSI)
Изменение фокуса (Focus Variation)

Особенности

  • Максимальное измерение шроховатости до 10 нм!
  • Разрешение по Z - 2 нм. Перемещение - 40 мм.
  • Удаленный котроль через SDK
  • S mart разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества в процессе или после обработки материалов.
  • Основанный на технологии микро-дисплея, S mart позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S mart является отличным аналитическим инструментом.
  • S mart позволяет измерять шероховатость поверхности до 10 нм. Оснащен двойным вертикальным сканером. 
  • S mart использует CCD сенсор высокого разрешения. Прибор имеет LED источник света внутри оптического ядра: белый (550 нм), который улучшают латеральное разрешение и длину когерентности оптического излучения.
  • Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
  • S mart может поставляться как решеие для интеграции оптической головы в станок или установку или как переносное портативное настольное решение. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
  • Регулировка по Z - 40 мм моторизованная, 200 мкм с пьезосканером, 150 мм ручная регулировка колонны (опционально)
  • Мощное программное обеспечение SensoSCAN 6.0 
Описание нет
Описание нет
Описание нет
Описание нет
Описание нет
Похожее оборудование:
Универсальный лабораторный микроскоп Leica DM1000 LED
Запросить цену
Запросить цену
Запросить цену
Универсальный микроскоп Leica DM500
Запросить цену
Микроскоп для работы в прямом и отраженном свете
Запросить цену
Запросить точную цену
Заполнить опросный лист
Купить в 1 клик
S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений