Моторизованный цифровой микроскоп ADF F100

ADF F100 – цифровой микроскоп сверхширокого диапазона увеличений с полной моторизацией и мощным функционалом ПО для работы в отраженном и проходящем свете. Различные виды подсветки и контраста, просмотр под углом до 90 градусов, 2D и 3D измерения. Увеличение до 7500 крат с непрерывным зумом. Идеален для неразрушающего контроля и инспекции.

Ключевые возможности ADF F100

• Различные режимы наблюдения и множество функций измерения
• Превосходная обработка изображений, 3D-изображение, расширенная глубина резкости
• Панорамное наблюдение без наклона образца
• Встроенный зум-трансфокатор с плавным переключением, полноценная встроенная система освещения
• Одновременная работа до четырех объективов; переключение с макрообзора на микронный уровень в один клик без смещения поля зрения
• Многофункциональный пульт управления: навигация, смена увеличения, выбор режима освещения, автофокус, 2D/3D-сшивка, расширенная глубина резкости в реальном времени, устранение бликов, HDR

Конструкция и режимы работы

	Освещение и контрастирование Поддерживается большинство режимов: коаксиальное эпископическое, коаксиальное наклонное, кольцевое, сегментированное, комбинированное, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК). Кольцевой осветитель передает максимально естественные цвета, коаксиальный позволяет наблюдать мельчайшие структуры плоских отражающих образцов.
	Объективы Апохроматические объективы высокого качества (2×, 10×, 20×, 50×, 100×) в моторизованном револьвере позволяют достичь отличного разрешения в пределах всего ряда увеличений — в том числе на рекордно большом в 7500 крат.
	Наклон оптики и столик Наклон оптической головки до 90° в обе стороны для осмотра образца под углом. Столик 245×230 мм с большим диапазоном перемещения и вращения работает в двух режимах: приоритет вращения (ход 50×50 мм, угол поворота ±90°) и приоритет движения для крупных образцов (ход 100×100 мм). Плавная настройка грубого и тонкого фокуса.
	Минимизация бликов и устранение отражений Благодаря рассеиванию света устраняются нежелательные блики, отражения и затемненные зоны на цилиндрических поверхностях металла. При осмотре поверхности через прозрачную среду (например, стекло) для устранения бликов используется оптический поляризационный фильтр.

Объективы и диапазон увеличений

Измерения с широчайшим набором инструментов

• Измерения объектов, находящихся в разных полях зрения, без формирования сшивки; одинаковое увеличение при любой фокусировке — результаты точны в любом месте ниже и выше точки фокуса
• Интеллектуальные измерения — программа самостоятельно распознает грани по уровню серого
• Полноценный набор инструментов: «точка-точка», «точка-линия», параллельные линии, перпендикуляры, кривые, углы, области и др., с экспортом данных в Excel; автоматические измерения по шаблону
• Функциональные 3D-измерения: вычисление объема, площади и высоты объектов; измерение контура — точные измерения формы и контура трехмерных объектов
• Формирование 3D-снимка/модели образца с картой высот; сшивка по осям X, Y, Z
• Подсчет и анализ частиц; одновременное отображение девяти окон предпросмотра эффектов обработки; бесшовное слияние множества полей зрения; навигационное окно с автоматическим перемещением столика

Микроскоп поставляется с программным обеспечением для управления, съемки и измерений. Совместим с программным обеспечением AXALIT для автоматизированного анализа изображений.