Исследовательский стереомикроскоп ADF X100

Категории

Исследовательский стереомикроскоп с увеличением до 400 крат. Схема Галилея, зум 0,8–10×, револьвер на два объектива, коаксиальный осветитель, проходящий и косопадающий свет, опциональная поляризация. Для экспертного контроля качества и поиска дефектов.

Тип микроскопа:

Стереомикроскоп, схема Галилея

Увеличение:

8–400× (зум 0,8–10×)

Освещение:

LED: проходящий, отраженный (коаксиальный, кольцевой)

Револьвер:

На 2 объектива, телецентрическая съемка

Тубус:

Бинокулярный / тринокулярный, C-mount, FN 23

Цена от

Цена по запросу

Оставить заявку

*Стоимость оборудования зависит от комплектации

Российский разработчик ПО

Официальный дистрибьютор

Пуско-наладочное и сервисное обслуживание

Доставка в любую точку России и СНГ

Гарантия
12 месяцев

Описание

Характеристики

Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.

ADF X100 – стереомикроскоп, выполненный по схеме Галилея. Револьвер на два объектива, возможность установки коаксиального осветителя, эргономичный наклонный тубус, проходящий и косопадающий свет – все эти опции позволяют решить любую задачу экспертного контроля качества и поиска дефектов. Опционально доступна поляризация как в отраженном, так и в проходящем свете.

Увеличение до 400 крат

Зум-трансфокатор 0,8–10×
Увеличение до 400 крат (объектив 2×, окуляры 20×)
Механизм клик-стоп для фиксации текущего увеличения – важен для измерений

Револьвер объективов и телецентрическая съемка

Поворотный револьвер для быстрой смены объективов, а также установки объектива соосно правому оптическому каналу для телецентрической фотосъемки. Это позволяет вести съемку через оптическую ось объектива и минимизировать хроматические и монохроматические аберрации. Точность измерений повышается, а фотографии становятся резкими по всему полю зрения.

Примеры изображений, полученных на ADF X100

Контроль дефекта на корпусе. Увеличенная глубина резкости, изображение в коаксиальном свете.	Крыло бабочки
Монацит	Микроэлектронный компонент
Шлиф металла с включениями

Стереомикроскоп соединяется с цифровой камерой (C-mount) для съемки изображений. При оснащении программным обеспечением AXALIT вы получаете комплекс для контроля качества, поиска дефектов и измерений.

Категории:

Контрольно-измерительные приборы Металлография Оборудование для микроэлектроники

Модель:	ADF X100
Оптическая система, увеличение:	Система Галилея (схема Аббе). Плавная регулировка увеличения в диапазоне 8–100× (окуляры 10×, без дополнительного объектива), либо 16–200× (окуляры 10×, объектив 2×), либо 32–400× (окуляры 20×, объектив 2×)
Освещение:	Различные типы освещения: проходящий свет, отраженный свет (коаксиальное освещение, кольцевое либо «гусиные шеи»). Светодиодные источники света
Фокусировка:	Механическая, с помощью коаксиального винта фокусировки с тонким фокусом
Револьвер:	С фиксацией, для двух объективов, с возможностью установки объектива в аксиальное положение фотоканала для высокоразрешающей съемки
Бинокулярный либо тринокулярный тубус:	Линейное поле FN 23. Угол наклона окулярных трубок 45°, регулировка межзрачкового расстояния, возможность установки цифровой камеры C-mount
Механизм клик-стоп:	Фиксация текущего увеличения. Важен для проведения измерений на микроскопе