Главная / Каталог / Электронные микроскопы / Просвечивающие электронные микроскопы / Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S

Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S

Категории
Сверхъяркий источник типа Шоттки и четыре детектора Super-X EDS для самого быстрого элементного картирования даже в 3D
Добавить в сравнение

Для самого быстрого элементного картирования даже в 3D

Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Поделитесь в соц.цетях:
Доставка в любую точку России и СНГ
Оплата наличным и безналичным способом
Доставка в течении недели
Гарантия 12 месяцев
Описание
Характеристики
Отзывы
Комплектация
Расходные материалы
Документы
Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.
Описание: 

Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность

FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристикам энергодисперсионного спектрометра характеристического рентгеновского излучения (EDS) FEI SuperX. Микроскоп позволяет проводить трехмерную характеризацию образца, включая определение элементного состава и картирование распределения элементов.

Управляющее программное обеспечение FEI Velox значительно повышает качество изображений при работе в STEM режиме за счет функции Smart Scanning, включающей в себя автоматическую компенсацию дрейфа и параллельный многоканальный сбор сигналов от разных детекторов и от разных сегментов одного детектора. Аналитический режим дифференциального фазового контраста (Differential Phase Contrast, DPC) для темнопольного детектора STEM позволяет визуализировать магнитные структуры.

FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости

В Talos F200X применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шоттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.

FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения

Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам.

Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.

Спецификация:

Talos F200X обладает рядом преимуществ за счет использования новейших технологий FEI в области просвечивающей электронной микроскопии:

  • Аналитическая объективная линза A-TWIN постоянной мощности для высочайшей стабильности.
  • Поддержка многопользовательской работы с сохранением и быстрым восстановлением независимых для каждого пользователя настроек работы микроскопа.
  • Полностью удаленная работа за счет использования камеры с большим динамическим диапазоном Ceta. Фокусировка, юстировка оптики, работа с дифракцией — Все выполняется без использования традиционного фосфорного экрана в условиях нормальной освещенности в помещении.
  • Уникальная безоконная конструкция кремниевых дрейфовых детекторов рентгеновского излучения обеспечивает высокую скорость анализа и чувствительность при анализе легких элементов.
  • EDS спектрометр FEI SuperX: четыре детектора для максимальной чувствительности под любым углом. 3D томография с восстановлением элементного состава.
  • Сверхъяркий катод FEI X-FEG: ток пучка в пять раз выше стандартного катода Шоттки

Характеристики:

A-TWIN
​Разрешение в режиме STEM, детектор HAADF 0,16 нм
Информационный предел TEM 0,12 нм
Диапазон увеличений STEM: 150x — 230Mx
TEM: 25x — 1,5Mx*
Диапазон длин камеры 12 — 5700 мм
​Максимальный угол дифракции 24 ̊​
​Максимальный угол наклона при использовании двухнаклонного держателя ± 30 ̊​
​​Максимальный угол наклона гониометра ± 90​ ̊​
​Энергодисперсионный спектрометр (EDS) с четырьмя кремниевыми дрейфовыми детекторам безоконного типа​
​Телесный угол EDS 0,9 стерадиан​
Описание нет
Описание нет
Описание нет
Описание нет
Похожее оборудование:
Доступный 200 кВ криоэлектронный микроскоп
Запросить цену
Криомикроскоп для исследования объектов на молекулярном уровне
Запросить цену
Просвечивающий микроскоп для задач биологии и медицины
Запросить цену
Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Купить в 1 клик
Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S