S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений

S mart соеденил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Он может устанавливаться на обрабатывающие станки и оборудование для контроля обработки деталей и образцов. 

Прибор выполнен с пылезащищенном исполнении.
Измерение шероховатости до 10 нм, угол до 86 градусов.
Разрешение по Z  - 2 нм.

Применение:

1. Машиностроение
2. Материаловедение  
3. Энергетика
4. Криминалистика
5. Контроль лазерной гравировки
6. Микроэлектроника 
7. Микромеханика
8. Оптика
9. Полупроводники
10. Потребительская электроника
11. Фотовольтика
12. Дисплеи

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, VSI)
Изменение фокуса (Focus Variation)

Особенности

• Максимальное измерение шроховатости до 10 нм!
• Разрешение по Z - 2 нм. Перемещение - 40 мм.
• Удаленный котроль через SDK
• S mart разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества в процессе или после обработки материалов.
• Основанный на технологии микро-дисплея, S mart позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S mart является отличным аналитическим инструментом.
• S mart позволяет измерять шероховатость поверхности до 10 нм. Оснащен двойным вертикальным сканером. 
• S mart использует CCD сенсор высокого разрешения. Прибор имеет LED источник света внутри оптического ядра: белый (550 нм), который улучшают латеральное разрешение и длину когерентности оптического излучения.
• Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
• S mart может поставляться как решеие для интеграции оптической головы в станок или установку или как переносное портативное настольное решение. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
• Регулировка по Z - 40 мм моторизованная, 200 мкм с пьезосканером, 150 мм ручная регулировка колонны (опционально)
• Мощное программное обеспечение SensoSCAN 6.0