Исследовательский стереомикроскоп ADF X100

Исследовательский стереомикроскоп с увеличением до 400 крат. Схема Галилея, зум 0,8–10×, револьвер на два объектива, коаксиальный осветитель, проходящий и косопадающий свет, опциональная поляризация. Для экспертного контроля качества и поиска дефектов.

Тип микроскопа:

Стереомикроскоп, схема Галилея

Увеличение:

8–400× (зум 0,8–10×)

Освещение:

LED: проходящий, отраженный (коаксиальный, кольцевой)

Револьвер:

На 2 объектива, телецентрическая съемка

Тубус:

Бинокулярный / тринокулярный, C-mount, FN 23

Цена от

Цена по запросу

Оставить заявку

*Стоимость оборудования зависит от комплектации

Russian software developer

Official Distributor

Commissioning
and maintenance

Delivery in any
point of Russia and the CIS

Guarantee
12 months

Description

Characteristics

To view the table, scroll horizontally.

ADF X100 – стереомикроскоп, выполненный по схеме Галилея. Револьвер на два объектива, возможность установки коаксиального осветителя, эргономичный наклонный тубус, проходящий и косопадающий свет – все эти опции позволяют решить любую задачу экспертного контроля качества и поиска дефектов. Опционально доступна поляризация как в отраженном, так и в проходящем свете.

Увеличение до 400 крат

Зум-трансфокатор 0,8–10×
Увеличение до 400 крат (объектив 2×, окуляры 20×)
Механизм клик-стоп для фиксации текущего увеличения – важен для измерений

Револьвер объективов и телецентрическая съемка

Поворотный револьвер для быстрой смены объективов, а также установки объектива соосно правому оптическому каналу для телецентрической фотосъемки. Это позволяет вести съемку через оптическую ось объектива и минимизировать хроматические и монохроматические аберрации. Точность измерений повышается, а фотографии становятся резкими по всему полю зрения.

Примеры изображений, полученных на ADF X100

Контроль дефекта на корпусе. Увеличенная глубина резкости, изображение в коаксиальном свете.	Крыло бабочки
Монацит	Микроэлектронный компонент
Шлиф металла с включениями

Стереомикроскоп соединяется с цифровой камерой (C-mount) для съемки изображений. При оснащении программным обеспечением AXALIT вы получаете комплекс для контроля качества, поиска дефектов и измерений.

Categories:

Measuring Metallography Microelectronics

Модель:	ADF X100
Оптическая система, увеличение:	Система Галилея (схема Аббе). Плавная регулировка увеличения в диапазоне 8–100× (окуляры 10×, без дополнительного объектива), либо 16–200× (окуляры 10×, объектив 2×), либо 32–400× (окуляры 20×, объектив 2×)
Освещение:	Различные типы освещения: проходящий свет, отраженный свет (коаксиальное освещение, кольцевое либо «гусиные шеи»). Светодиодные источники света
Фокусировка:	Механическая, с помощью коаксиального винта фокусировки с тонким фокусом
Револьвер:	С фиксацией, для двух объективов, с возможностью установки объектива в аксиальное положение фотоканала для высокоразрешающей съемки
Бинокулярный либо тринокулярный тубус:	Линейное поле FN 23. Угол наклона окулярных трубок 45°, регулировка межзрачкового расстояния, возможность установки цифровой камеры C-mount
Механизм клик-стоп:	Фиксация текущего увеличения. Важен для проведения измерений на микроскопе

Description not available

Исследовательский стереомикроскоп ADF X100

Увеличение до 400 крат

Револьвер объективов и телецентрическая съемка

Примеры изображений, полученных на ADF X100

Есть вопрос? Будем рады помочь, пишите.