Программное обеспечение AXALIT СЭМ

Категории

AXALIT СЭМ – обработка и количественный анализ снимков со сканирующих электронных микроскопов: автоопределение масштаба, подавление шума, сшивка полей зрения в панораму, подсчёт и классификация объектов, расчёт светлой и тёмной фазы.

Оставить заявку

Российский разработчик ПО

Официальный дистрибьютор

Пуско-наладочное и сервисное обслуживание

Доставка в любую точку России и СНГ

Гарантия
12 месяцев

Описание

Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.

Модуль AXALIT СЭМ дополняет базовую версию ПО AXALIT и работает со снимками сканирующих (растровых) электронных микроскопов любых производителей. Изображение с СЭМ несёт больше деталей, чем оптический снимок, но и обрабатывать его сложнее: свой масштаб на каждом кадре, цифровой шум, узкое поле зрения. Модуль снимает эти ограничения и переводит снимок в измеримые величины.

Методики AXALIT СЭМ

Универсальные методики

Анализ контрастности;
Анализ пористости в микро- и макроструктуре;
Анализ фазового состава;
Анализ фракций частиц – гранулометрический состав;
Поиск диаметров образца;
Модуль атласов.

Отдельные стандарты

ASTM E562. Определение объёмной доли методом подсчёта точек.

Перечень методик формируется по опросному листу AXALIT. Разработка методики под ваше техническое задание – по запросу.

Интерфейс программного обеспечения AXALIT СЭМ

Рабочее окно ПО AXALIT СЭМ

Работа со снимком электронного микроскопа

Этап	Что делает программа
Масштаб	Определяется автоматически по самому снимку – оператору не нужно вводить увеличение вручную и пересчитывать размеры.
Качество изображения	Корректируются цифровой шум и геометрические искажения, границы объектов становятся различимыми для сегментации.
Сшивка полей зрения	Соседние кадры объединяются в единую панораму – анализируется вся площадь образца, а не отдельный кадр.
Анализ объектов	Автоматический подсчёт и классификация объектов, расчёт доли светлой и тёмной фазы, сбор статистики.

Автоматическое определение масштаба снимка СЭМ

Сшивка полей зрения снимков СЭМ в панораму

Подсчёт и классификация объектов на снимке СЭМ

Статистика и отчёт по снимку СЭМ в ПО AXALIT

Что получает оператор

Количественные и качественные характеристики объектов на снимке;
Долю светлой или тёмной фазы с распределением по площади;
Ручное редактирование результатов – контуры и классы правятся поверх автоматической сегментации;
Развёрнутый отчёт со статистикой, таблицами и гистограммами.

Снимок до и после анализа


Исходный снимок	После сегментации

Точность сегментации – 98%;
Время обработки одного снимка – меньше секунды;
Готовые методики по ГОСТ, ISO, ASTM;
Протокол выгружается в PDF и Excel.

Кому подойдёт

Материаловедческие лаборатории;
НИИ и университеты;
Центры коллективного пользования;
Отделы контроля качества.

Области применения – материаловедение, микроэлектроника, порошковые материалы, геология.

Совместимость и развёртывание

Модуль принимает снимки сканирующих электронных микроскопов любых производителей и не требует замены имеющегося оборудования. Платформы – Windows и Linux.

Системные требования

Параметр	Минимальные	Рекомендуемые
Операционная система	Windows 10 64 бит / Linux	Windows 10 64 бит / Linux
Процессор	Intel Core i3-12100	Intel Core i5-12400
Оперативная память	16 ГБ	32 ГБ
Видеокарта	NVIDIA GTX 1650	NVIDIA RTX 3050
Накопитель	SSD 250 ГБ	SSD 500 ГБ